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  FeSuMa角分辨光電子能譜分析儀

 FeSuMa角分辨光電子能譜分析儀

 

費米面是定義固體中電子占據能量的三維 (3D) 抽象界面,對于表征和預測晶體金屬和半導體的熱、電、磁和光學特性非常重要。角分辨光電子能譜 (ARPES) 是唯一一種直接探測費米表面的技術。

現有的電子分析儀能夠同時確定多個 kF 向量,但當前的技術限制禁止直接高分辨率 3D 費米表面映射。結果,不存在這樣的數據集,強烈限制了我們對費米面的了解,并限制了與當今廣泛使用的計算 3D 費米面的詳細比較。

FeSuMa基于傅立葉電子光學與檢測器的延遲場相結合,可以在非常短的時間間隔內以非常高的分辨率執行3D 映射,做到實時費米面的2D成像。

 

 

 

FeSuMa ® (Fermi Surface Mapper) 是一種用于研究材料電子結構的電子能譜儀。該儀器的概念基于利用與傳統分析儀不同的信息單元 - 2D 角分布。這意味著可以立即檢測到與費米能級窄能量區間內的電子對應的角分布,直接提供高分辨率的費米表面圖。可以通過區分在不同閾值能量下記錄的圖的序列來獲得能量分布。

 

應用:

單晶固體的 3D 費米面

低能電子結構

MBE 生長薄膜的質量控制。

 

FeSuMa的優點:

適用于任何基于激光、實驗室或同步加速器的無高階聚焦單色光源

快速獲取時間

無需操縱樣品位置或電子束來測量費米面

各向同性角分辨率

樣品質量的光學控制

高精度電源

直接從 Igor Pro 軟件采集數據

緊湊的設計。

 

四種鏡頭模式:

傅里葉模式 36°,角分辨率 ~0.2°

傅里葉模式 28°,角分辨率 <0.2°

傅里葉模式 16°,角分辨率 <0.1°

直接模式,空間分辨率~10 畝。

 


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